图像均匀性和辐射测量定标的精度体现了先进的红外热像仪的主要参数。在过去几年中几种非均匀性校正和辐射测量标定技术已经被开发出来。每种方法都有自己的优点和缺陷。但是所有这些方法的共同点两个主要缺点，使得热像仪不能很好的被使用。更详细地说，这些校准标定技术的主要缺点是限制使用预设曝光的积分时间和并且他们的失败在于未能确保环境温度变化时作出适当的补偿。这使他们在真正的外场环境下的使用几乎是不能实现的。本应用笔记介绍由 Telops 开发的一种新的图像校正和标定技术的优点以及重要的实际操作中带来的优势。

Telops 创新的校准方法被设计为紧密地配合热像仪的物理性能以便校修正在非常相近的参考范围中出现要移除的影响。而不是依赖于观察数字电平的变化与黑体温度对应的函数，或者波段范围内的辐射变化函数，它是用通量来表征的[DL/μs 的单位]，代表了热像仪取决于曝光时间相关的读数灵敏度。下面是方法及其关键原理的简短说明

理想情况下，积累的电子的数量线性地随曝光时间的增加而增加。可以观察到所检测到的电子通量（斜率）随着黑体温度的增加而增加，但截距却总是同样，因为它更多地依赖于读出电路的偏置的水平。对应于各个不同的像素的曲线之间的极强的相似性第一次被注意到，这意味着它们是被仿射变换所代表的每一个像素的基于一个典型的额定曲线和以及增益和偏置的参数。说明了环境温度增加的作用，这只是简单的增加了一个给定的通量，独立于场景温度。这个偏置直接取决于热像仪的自身辐射。